交變濕熱試驗?zāi)康?/strong>

　　高溫老化試驗是針對高性能電子產(chǎn)品（如：計算機整機，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機板、監(jiān)視器、等）仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。

　　交變濕熱試驗范圍

　　●計算機類：電腦、顯示屏、主機、電腦元器件、醫(yī)療設(shè)備等精密儀器等

　　●電子通信類：手機、射頻器、電子通信元器件等。

　　●電器類：家電、燈具、變電器等各類家電電器設(shè)備；

　　●其他：包裝箱、運輸設(shè)備等。

　　交變濕熱試驗標準

　　GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫

　　GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫

　　GB/T2423.3-2016環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗

　　GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Db交變濕熱

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